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2014-1
進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)，技術(shù)規(guī)格不同的被測(cè)試品，測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)也就不同。對(duì)一般被測(cè)設(shè)備，耐壓測(cè)試是測(cè)量火線與機(jī)殼之間的漏電流值，基本規(guī)定是：以兩倍于被測(cè)物的工作電壓再加1000V作為測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓。部分產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于這一規(guī)定值...
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3
2014-1
測(cè)量條件參考：元件規(guī)格測(cè)量頻率測(cè)量方式備注電容100KHz并聯(lián)電容≥1μF(非電解電容)100Hz并聯(lián)電容≥1μF（電解電容）100Hz串聯(lián)另加直流偏置，比如1V電感＜100nH100KHz串聯(lián)視情況加直流偏置電感≥1H...
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3
2014-1
上升時(shí)間：系指待測(cè)電壓由0V緩步增加至額定測(cè)試電壓所需的時(shí)間。一般來(lái)說(shuō)，多使用在DC耐壓測(cè)試電容性負(fù)載時(shí)，以避免電容性待測(cè)物因瞬間加壓而產(chǎn)生過大的瞬間充電電流，造成測(cè)量的誤判。
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3
2014-1
耐壓測(cè)試儀的容量一般指交流測(cè)試的輸出功率。因此耐壓測(cè)試儀的容量決定于zui大的交流輸出電壓xzui大交流電流。以GPI-74為例：5000Vx40mA(0.04A)=200VA；以GPT-815為例：5000Vx100m...
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2014-1
絕緣阻抗(IR)測(cè)試是一種定性測(cè)試，提供絕緣系統(tǒng)的相對(duì)質(zhì)量的一個(gè)表示。測(cè)試時(shí)通常用500V或1000V的DC電壓進(jìn)行，結(jié)果用兆歐電阻(MΩ)來(lái)度量。耐壓測(cè)試(Hi-Pot)測(cè)試則是一種定量測(cè)試，同樣也給DUT施加高壓，但...
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2
2014-1
絕緣阻抗是絕緣材料質(zhì)量的測(cè)量，其測(cè)試方式和耐壓測(cè)試非常相似。同樣是當(dāng)電氣產(chǎn)品在未上電的狀態(tài)下，把高達(dá)500V(或zui大1000V)的直流電壓施加到需要測(cè)試的兩個(gè)互相絕緣的點(diǎn)。絕緣阻抗(IR)測(cè)試給出的通常是以兆歐(MΩ...
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2
2014-1
如今隨著電子產(chǎn)品電壓的不斷攀升,400V,600V甚至1000V,能滿足如此高電壓的電子負(fù)載型號(hào)非常有限。于是很多人就會(huì)考慮將多臺(tái)電子負(fù)載串聯(lián)的辦法,但是絕大部分的電子負(fù)載都是無(wú)法串聯(lián)使用的。電子負(fù)載和直流電源一樣,具有...
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2014-1
耐壓測(cè)試既可能是AC耐壓、也可能是DC耐壓，甚至兩者皆需要，*取決于特定產(chǎn)品類型；一般而言，AC耐壓比DC耐壓更常被必須要執(zhí)行。舉例來(lái)說(shuō)，一般消費(fèi)性電氣產(chǎn)品使用交流電源的情況，多過于使用直流電源。所以，zui低限度，產(chǎn)品...
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2014-1
LCR測(cè)試儀的基本準(zhǔn)確度，指其在*測(cè)試條件下所獲得的準(zhǔn)確度。一般而言，基本準(zhǔn)確度不包括來(lái)自外部可能的誤差，例如測(cè)試治具或測(cè)試線；并且準(zhǔn)確度的取得是當(dāng)LCR表處于的測(cè)試信號(hào)、頻率、zui慢的測(cè)量速度。而LCR測(cè)試儀的實(shí)際準(zhǔn)...
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2014-1
有可能信號(hào)發(fā)生器設(shè)為低阻輸出了。現(xiàn)實(shí)中的電壓源一般可等效為理想電壓源串聯(lián)內(nèi)阻（阻值很小）的方式。函數(shù)信號(hào)發(fā)生器高阻輸出時(shí)，發(fā)生器的設(shè)置值即為模型中理想電壓源的真實(shí)值2V。低阻輸出時(shí)，應(yīng)接入與發(fā)生器輸出阻抗匹配的負(fù)載網(wǎng)絡(luò)，...
